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文物影响评估体系研究(以古遗址展示利用为视角)(精)

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  • 包装:精装
  • 出版社:科学
  • ISBN:9787030641458
  • 作者:滕磊|责编:孙莉//吴书雷
  • 页数:323
  • 出版日期:2019-12-01
  • 印刷日期:2019-12-01
  • 开本:16开
  • 版次:1
  • 印次:1
  • 字数:500千字